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RAVIIS-300快速自動微顆粒成像分析系統
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- 產品描述
- 特性優勢
- 基本參數
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RAVIIS-300快速自動微顆粒成像分析系統
是一款快速智能、全自動化、且擁有完全自主知識產權的50KV掃描透射電子顯微鏡（STEM）。滿足病毒形態觀察、疫苗細胞庫安全性檢測及疫苗研發制造、臨床病理組織切片研究、生物科研腦神經連接組學等領域的應用需求。
● 分辨率 1.0nm@50kV（1nA）
● 單束STEM成像速度100M像素/秒
● 10ns/像素 駐留時間
● 全自動樣品載入系統
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產品特點
1、超高分辨率
全新光學系統設計，分辨率1.0nm@50kV（1nA），可獲得兼具高分辨率和大視野（畸變小于1‰）的圖像2、超高速成像
高速STEM探測器 ，圖像采集速度100M/S3、全自動樣品載入與導航
配備全自動樣品載入系統（5個樣品同時載入），全新的樣品加載方案、便捷的樣品信息查詢功能，實現了樣品管理自動化4、穩定可靠
7*24小時自動連續圖像采集核心技術
● 高分辨率高亮度電子光學系統
50KV下100M/s STEM超高速成像。系統具備視頻級（25fps@2k*2k）納米尺度分析能力，在保持高分辨率情況下，可進行全自動無遺漏信息采集。
● 高靈敏度直接電子探測器
RAVIIS-300所有探測器均采用獨立設計的直接電子（Direct Electron）探測器，電子直接轉換為電信號，因此探測效率高達80%以上，擁有更高的信噪比（SNR）。
● 大場與高分辨成像快速切換
創新的電子光學設計，大場成像與高分辨成像獨立運行，快速切換，顆粒精準識別定位，高分辨迅速成像。
● 高速高穩定機械運動平臺
采用無震動運動平臺，X=±4mm， Y=±4mm，定位精度1um。
● 專為全自動化微顆粒檢測設計的光學系統
傳統透射電鏡視場較小，無法滿足大量納米顆粒的檢測和識別工作。RAVIIS-300基于半導體工業級電子束檢測設備理念設計，實現高通量納米顆粒檢測能力；
RAVIIS-300通過對快速成像技術、無震動樣品臺、高速電子光學系統以及AI技術等創新設計，實現了超高速成像，成像速度可達到傳統電鏡的數十倍以上。● 全自動化設計
開機巡檢、導航定位、一鍵對中、對焦調整、移位糾偏等一系列動作自動化，實時聚焦跟蹤系統由硬軟件配合組成。利用精準的電子偏轉實現樣品圖像的精準定位，從而實現結果的高重復性。它不僅免除了耗費大量精力來調整尋找樣品位置，同時利用AI智能實現自動檢測，最終實現無人值守連續工作。
● 可針對不同客戶量身定制軟件功能
借助現代人工智能、AI算法等幫助試驗人員進行分析，配合從前端樣品制備，到電鏡自動全切片成像拍攝、拼接后生成為高分辨地圖集，再到后端數據處理，AI 智能分析可用于顆粒自動檢測和分類，為用戶提供完整的解決方案。
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技術參數
RAVIIS-300
分辨率
(1nA束流, 最佳條件下)1.0nm@50kV
成像模式
BF/DF（明場/暗場）
STEM模式著陸電壓
50KV
探測器類型
半導體直接探測器
放大倍數
1X-500X(低倍率光學拍攝)
500X - 800,000X(STEM圖像)電子槍
Schottky型熱場發射
電子束流
50pA至100nA
樣品臺
X=±4mm， Y=±4mm，定位精度1um
成像通量
在0.5小時內以4nm pixel可完成1x1mm²的區域成像
極快速成像采集速度
100MB/s, 單張24k x 24k圖像只需6.5s拍攝
采集方式
STEM 明場或者暗場采集
高通量電鏡設備控制軟件
RAVIIS具備自動圖像優化，智能聚焦跟蹤，全景光學導航，超大面積全自動采集功能
大場與高分辨成像快速切換
創新的電子光學設計，大場成像與高分辨成像獨立運行，快速切換，顆粒精準識別定位，高分辨迅速成像
圖像分析處理軟件
AI Server超大視野成像，100um@25nm，AI Server高效率識別與測量
高通量顆粒定量檢測能力
全新的載樣系統及自動化樣品管理系統，為定量檢測保駕護航
RAVIIS-300快速自動微顆粒成像分析系統
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伯銳鍶
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